BeNano 180 納米粒度分析儀

簡(jiǎn)要描述：BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開(kāi)發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-07-26
訪(fǎng) 問(wèn) 量： 4426

產(chǎn)品分類(lèi)

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詳細(xì)介紹

BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開(kāi)發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過(guò)激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在背向 173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng)，再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線(xiàn)，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛(ài)因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。

BeNano 180 納米粒度分析儀

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

原理	動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品	40 μL – 1 mL
檢測(cè)角度	173 °
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測(cè)試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測(cè)試

測(cè)試能力

均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

粘度和折光率測(cè)試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢(shì)測(cè)試

時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/span>
標(biāo)準(zhǔn)激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍
檢測(cè)器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)